텔레다인르크로이(지사장 이운재 http://teledynelecroy.com/korea)는 오늘 QPHY-PCIE6-TX-RX 완전 자동화된 PCIE6 TX-RX컴플라이언스 테스트 소프트웨어를 발표했다. 동시에 PAMx 신호와 PCIE Gen 6 신호 디버깅 및 특성을 파악할 때 사용할 수 있는 SDAIII-PCIE6와 SDAIII-PAMx 솔루션을 발표했다.
인공지능/머신러닝(AI/ML) 및 고성능 컴퓨팅(HPC) 등 신기술이 발전함에 따라 대용량 데이터를 빠르게 처리할 수 있는 솔루션에 대한 수요가 급증하고 있다. 차세대 PCIe® 6.0에서는 PCIe5.0에서 제공하던 전송 속도 32GT/s 보다 두 배 빠른 64GT/s 속도를 지원할 수 있는 PAM4(멀티 레벨 신호)를 사용하여 빠른 데이터 접근이 필요하다는 요구를 충족시킬 예정이다. PAM4 방식을 이용하면 빠른 속도로 데이터를 전송할 수 있지만, 멀티 레벨 신호를 다루는 시스템 개발자들에게는 테스트를 수행할 때 여러 가지로 복잡한 과정을 거쳐야 하는 부담감을 준다.
텔레다인르크로이의 새로운 자동화 테스트 소프트웨어 QPHY-PCIE6-TX-RX와 SDAIII-PCIE6 그리고SDAIII-PAMx 는 제품 특성 파악과 디버깅을 수행하는 소프트웨어로, 텔레다인르크로이 LabMaster 10 Zi-A 오실로스코프에서 SDAIII-CompleteLinQ 시리얼 데이터 분석 소프트웨어와 함께 동작하여, PCIe 개발자들이 복잡한 PCIe 6.0 디바이스를 테스트하고 디버깅할 때 필요한 분석 툴을 제공한다. 이번에 발표하는 새로운 솔루션은 다음과 같은 기능을 제공한다:
· 멀티 레벨에서 발생하는 트랜지션 그룹별로 지터를 계산하고 표시한다.
· 현재 SigTest에서 사용하는 AC Fit 방식을 이용한 Tx Equalization Preset 테스트를 진행하고 결과를 제공한다.
· 텔레다인르크로이가 제공하는 트랜스미터 이퀄라이제이션 툴을 이용하여 Preset 커서 값을 사용자가 직접 설정 또는 변경하여 파형을 관측하고 측정할 수 있다.
· SNDR(Signal-to-Noise-and-Distortion-Ratio)는 완성도 높은 오실로스코프 노이즈 보정과 강력한 신호 분석 파형 디스플레이 방식으로 및 신호 분석 결과를 파형으로 표시한다.
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